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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備，測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算